Bowman K系列：专为多品种样品质量控制部门设计的XRF镀层测厚系统。核心优势是12"×12"（305mm×305mm） 超大测量区域，配合Z轴9"（228mm） 的充足空间，轻松容纳并自动测量各种尺寸的复杂零件。
搭载高分辨硅漂移探测器（SDD） 与长寿命50W微聚焦X射线管，可同时分析最多5层镀层及30种元素。标配4位电动多准直器和可变焦摄像头，配合伺服电机驱动的可编程XY平台，实现对不同特征尺寸样品的精准定位与自动批量测量。悬臂门设计方便取样，“表格视图”功能一键导航至任意测点。
系统运行Bowman Archer软件，一键生成报告并导出至ERP，符合ASTM B568、DIN50987、ISO 3497及IPC-4552标准。广泛应用于PCB、半导体、连接器、紧固件、汽车零部件等行业。
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