博曼O系列：尖端微区XRF镀层测厚之选
美国博曼O系列，采用80μm多导毛细管光学结构，以极高的能量密度实现极小的X射线光斑尺寸，专为极小样品、极薄涂层的高精度分析而设计。
核心亮点
极小微区分析：80μm毛细管光学结构替代传统准直器，在保持高能量通量的同时，实现极小光斑测量，完美应对半导体、连接器、PCB等微小特征的精确分析。
纳米级涂层测量：轻松应对<100nm的超薄涂层分析需求，是高端电子制造的品质保障利器。
高通量、高效率：多导毛细管传递数百倍能量信号，配合高分辨率SDD探测器，1-5秒即可完成单点测量，满足大批量快速检测需求。
全自动批量检测：标配可编程XY样品台，轻松实现多样品、多位置全自动测量，大幅提升效率。
精准定位，清晰可见：配备250X高倍双摄像头系统，微米级样品细节一览无余，精准定位测量点。
符合行业严苛标准：完全符合IPC-4552A（ENIG化学镍金）等车规级镀层工艺标准，进入高端供应链的通行证。
技术参数速览
参数规格
光学系统80μm毛细管光学结构（替代准直器）
X射线管50W微聚焦X射线管
探测器高分辨率SDD硅漂移探测器（135eV及以上）
元素范围13号Al ~ 92号U
分析能力5层镀层（含基材），每层10种元素
测量时间最快1-5秒/点
视频系统250X双摄像头或45X单摄像头
样品台可编程XY平台（标配）
符合标准IPC-4552A
适用客户
半导体封装：晶圆凸块、引线框架、超薄镀层分析
高端连接器：微小型端子、精密触点镀层分析
PCB/载板：ENIG/ENEPIG化学镀层、精细线路分析
新能源三电：高压连接器、极薄功能性镀层检测
博曼O系列——以极致的微区分析能力，定义高端XRF镀层测厚新标准。
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