美国原装进口，博曼经典基础机型，以极具竞争力的价格提供卓越的镀层厚度与成分分析能力。
性能强大：元素测量范围覆盖Al（13号）至U（92号），最多可分析5层镀层及25种元素成分。标配190eV高分辨率Si-PIN探测器，可选配性能更优的SDD探测器，满足不同精度需求。
稳定可靠：搭载50W微聚焦X射线管，配合4位置一次滤波器，确保激发稳定、测量精准。
操作简单：固定样品台、激光自动对焦与清晰视频定位，手动操作便捷直观。智能Xralizer软件，一键生成报告，数据自动保存、可追溯。
灵活升级：可根据业务发展，升级多准直器、可变焦相机或SDD探测器，保护投资。
应用广泛：适用于PCB、连接器、紧固件、汽车零部件、珠宝首饰等行业，可用于镀层厚度分析、电镀液监控及RoHS有害元素检测。
博曼B系列——以基础型的价格，享受博曼品质与性能，是您入门XRF镀层检测的理想之选。
技术参数速览
参数规格
光学系统80μm毛细管光学结构（替代准直器）
X射线管50W微聚焦X射线管
探测器高分辨率SDD硅漂移探测器（135eV及以上）
元素范围13号Al ~ 92号U
分析能力5层镀层（含基材），每层10种元素
测量时间最快1-5秒/点
视频系统250X双摄像头或45X单摄像头
样品台可编程XY平台（标配）
符合标准IPC-4552A
适用客户
半导体封装：晶圆凸块、引线框架、超薄镀层分析
高端连接器：微小型端子、精密触点镀层分析
PCB/载板：ENIG/ENEPIG化学镀层、精细线路分析
新能源三电：高压连接器、极薄功能性镀层检测
博曼——以极致的微区分析能力，定义高端XRF镀层测厚新标准。
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