博曼B系列：高性价比XRF镀层测厚之选
美国原装进口，博曼经典基础机型，以极具竞争力的价格提供卓越的镀层厚度与成分分析能力。
性能强大：元素测量范围覆盖Al（13号）至U（92号），最多可分析5层镀层及25种元素成分。标配190eV高分辨率Si-PIN探测器，可选配性能更优的SDD探测器，满足不同精度需求。
稳定可靠：搭载50W微聚焦X射线管，配合4位置一次滤波器，确保激发稳定、测量精准。
操作简单：固定样品台、激光自动对焦与清晰视频定位，手动操作便捷直观。智能Xralizer软件，一键生成报告，数据自动保存、可追溯。
灵活升级：可根据业务发展，升级多准直器、可变焦相机或SDD探测器，保护投资。
应用广泛：适用于PCB、连接器、紧固件、汽车零部件、珠宝首饰等行业，可用于镀层厚度分析、电镀液监控及RoHS有害元素检测。
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